Статьи автора

Применение численного обращения преобразования лапласа для расчета плотности молекулярных состояний

Номер выпуска 5 от 03.03.2026

Для оценки констант скорости мономолекулярных реакций с использованием квазиравновесной статистической теории требуется информация о плотности дискретных состояний молекул. В настоящей работе предложен новый подход к расчету плотности дискретных состояний стабильных молекул и переходных комплексов, который основан на численном обращении преобразования Лапласа. Для апробации метода проведены тестовые расчеты модельных систем, включающих молекулы H₂O, NH₃, CD₄ и с-C₃H₆. Показано, что при энергиях, меньших 200 ккал/моль, относительная ошибка расчета интегральной плотности дискретных состояний не превышает 0.5%. Результаты, полученные данным методом, могут быть использованы, например, для оценки констант скорости реакций с участием органических радикалов, образующихся в тропосфере и тропопаузе.

32 0

МЕТОДИКА ОЦЕНКИ ЭФФЕКТИВНОСТИ ГИПЕРСПЕКТРАЛЬНОЙ АППАРАТУРЫ ПО ОБНАРУЖЕНИЮ ГАЗОВЫХ ОБЛАКОВ И ШЛЕЙФОВ

Номер выпуска 12 от 03.03.2026

Утечки токсичных или взрывоопасных газов негативно влияют на экологию, представляют серьезную угрозу жизни и здоровью сотрудников предприятий, а также населению близлежащих территорий. Современные технологии дают возможность оперативно выявлять такие угрозы дистанционно, предотвращая возможные аварии и катастрофы. В настоящей работе приведена новая методика, позволяющая провести моделирование обнаружения облака газа, образовавшегося в результате утечки на промышленной инфраструктурной линии в условиях открытой атмосферы, включая синтезирование условий наблюдения в диапазоне длин волн излучения 300—2500 нм с учетом особенностей его регистрации с помощью гиперспектральной аппаратуры (ГСА). На примере задачи обнаружения утечки диоксида серы с помощью нейросетевого алгоритма на основе сиамской нейронной сети показано, что облако SO может быть дистанционно выявлено при использовании ГСА, работающей в диапазоне 330—700 нм со спектральным разрешением 1 нм.

50 0